Maksuttomat tietokannat

Patentit ovat julkista tietoa. Joka vuosi ilmestyy yli kaksi miljoonaa uutta patenttijulkaisua. Julkaisuja on jo yli 80 miljoonaa, yli sadasta maasta ja useilla eri kielillä.

Patenttijulkaisuja on kahdenlaisia:

• hakemusjulkaisuja
• myönnetyistä patenteista tehtyjä julkaisuja.

Julkaisuihin voit tutustua patenttitietokannoissa.

Tutustuminen maksuttomiin tietokantoihin kannattaa

Voit myös teettää ennakkouutuustutkimuksen asiantuntijallamme tai tilata muita tutkimuspalvelujamme.

Tutustu tutkimuspalveluihimme.

Mistä löydät tietoa?

Käytössäsi on seuraavat maksuttomat tietokannat:

• PatenttitietopalveluAvautuu uuteen välilehteen– tiedot suomalaisista patenteista, hyödyllisyysmalleista ja lisäsuojatodistuksista (SPC) ja niihin liittyvät asiakirjat sekä tietoja Suomessa voimaan saatetuista eurooppapatenteista (EP-patentti).
  
• Espacenet-tietokantaAvautuu uuteen välilehteen– patenttijulkaisuja kaikkialta maailmasta
• Englanninkielinen EspacenetAvautuu uuteen välilehteen– uudempi versio palvelusta 
• Teollisoikeuslehdet-palveluAvautuu uuteen välilehteen
• Patenttilehti – koonti patentteihin ja lisäsuojatodistuksiin liittyvistä kuulutuksista ja tiedoksiannoista, kuten hakemusten julkiseksitulot ja myöntämiset. Tieto rekisteröinneistä kuulutetaan automaattisesti rekisteröinnin yhteydessä. Näin ollen uusia rekisteröintejä voidaan julkaista päivittäin.
• Hyödyllisyysmallilehti – koonti hyödyllisyysmalleihin liittyvistä kuulutuksista ja tiedoksiannoista, kuten hakemusten julkiseksitulot ja rekisteröinnit. Tieto rekisteröinneistä kuulutetaan automaattisesti rekisteröinnin yhteydessä. Näin ollen uusia rekisteröintejä voidaan julkaista päivittäin.
  

Patenttihakemukset tulevat julkisiksi yleensä vasta 18 kuukauden kuluttua tekemispäivästään. Siispä etsimäsi hakemus voi hyvinkin olla vireillä, vaikka et sitä tietokannasta vielä löydäkään.

HUOMIO! Kun etsit tietyn tekniikan alan keksintöjä, voit käyttää apunasi patenttiluokitusta. Tietokannat sisältävät muun muassa hakukentän, johon voit syöttää halutun luokan. Lue lisää patenttiluokituksesta.

Tutustu patenttirekisterinAvautuu uuteen välilehteen ja hyödyllisyysmallirekisterin Avautuu uuteen välilehteen tietosuojaselosteisiin